Aehr Test Systems, Inc. 提供用於測試、老化和穩定晶圓級、單片芯片和封裝部件形式的半導體器件的測試解決方案。其產品包括 FOX-P 系列測試和老化系統以及 FOX WaferPak 對準器、FOX WaferPak 接觸器、FOX DiePak 載體和 FOX DiePak 裝載機。FOX-XP 和 FOX-NP 系統是全晶圓接觸和單片芯片/模塊測試和老化系統,可以測試、老化和穩定各種器件,例如基於碳化硅和其他功率半導體、用於手機、平板電腦和其他計算設備的 2D 和 3D 傳感器。FOX-CP 系統是用於邏輯、內存和光子器件的單晶圓緊湊型測試解決方案。 FOX WaferPak 接觸器包含一個全晶圓接觸器,能夠測試最大 300 毫米的晶圓,使集成電路製造商能夠在 FOX-P 系統上對整個晶圓進行測試、老化和穩定。它提供封裝部件可靠性/老化測試解決方案。
公司代碼AEHR
公司名稱Aehr Test Systems
上市日期Aug 15, 1997
成立日期1977
CEOMr. Gayn Erickson
員工數量115
證券類型Ordinary Share
年結日Aug 15
公司地址400 Kato Ter
城市FREMONT
上市交易所NASDAQ Capital Market Consolidated
國家United States of America
郵編94539
電話15106239400
網址https://www.aehr.com/
公司代碼AEHR
上市日期Aug 15, 1997
成立日期1977